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涂层测厚仪
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  • 菲希尔Fischer XDV-SDD台式X射线荧光涂层测厚仪

    XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能.强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm²的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外,仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立.优化的激发条件。

特点:

  • 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器(SDD),能高精度地测量.薄的镀层
  • 极耐用的设计结构,能以极出色的长期稳定性用于连续测量
  • 可编程XY平台和Z轴,用于自动化连续测量
  • 拥有实时的视频显示和辅助激光点,使得样品定位变得快速而简便

应用:

镀层厚度测量

  • 测量极薄镀层,如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
  • 测量汽车制造业中的硬质涂层
  • 光伏产业中的镀层厚度测量

材料分析

  • 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质(如重金属)进行鉴别
  • 分析黄金和其他贵金属及其合金
  • 测定功能性镀层的组分,如NiP镀层中的P含量
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